回收租售Noiseken ESS-6002靜電放電發(fā)生器

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特征
考查實際上給電子設(shè)備安裝半導體元件時，半導體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗器。
半導體元件因受靜電可能發(fā)生內(nèi)部配線，絕緣膜的熔斷，破壞等而導致產(chǎn)品特性裂化，誤動作的現(xiàn)象。
對于此靜電破壞試驗，只需利用1 臺弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡單實行人體帶電型，機器帶電型的試驗。還有，可用選件中的精密型支架可對超細密間距元件做半自動的試驗。
*適合用于進行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗。
精密型支架
可做*高輸出電壓±8KV 試驗（ESS-6008）
可做出留有余量的試驗
可對各種間距的受測元件進行靜電施加試驗
可搭配精密測臺，以半自動（Y 軸）的腳位移動而正確的對待
測物施加靜電
可做*低試驗電壓±10V 的試驗（ESS-6002）
對于低電壓驅(qū)動元件的評價可從10V 開始以1V 的步長予施加
可對應(yīng)規(guī)格
規(guī)格半導體器件靜電放電模擬試驗器 (ESS-6002/ESS-6008)
ESS-6002特點
輸出電壓 10～2000V±10％（ESS-6002） 1V步進
輸出極性 正或負
重復周期 0.3～99s±10％
到10s為止0.1s步進 10s以后1s步進
放電次數(shù) 1～99次/連續(xù)
Automatic output voltage ramping Available
尺寸 （W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分）
尺寸 約6kg