回收銷售Wayne Kerr/穩(wěn)科 WK6500B WK6540B 阻抗分析儀

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測試參數(shù):
電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(G), 電納(B), 電抗(X), 消耗因素(D), 品質(zhì)因素(Q), 阻抗(Z), Y參數(shù)(Y), 相位角(θ)
高精度量測：
電容C,電感L及阻抗Z基本**度為±0.05%。損耗因數(shù)D**度為±0.0005及品質(zhì)因數(shù)Q**度為±0.05%。
元件圖形掃描
WK6500B系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率，高精度的量測。該設備還是一個包含豐富特性的元件分析儀。
曲線掃描可依據(jù)頻率、驅動值和直流偏壓源同時在高清晰,大型彩色顯示幕上顯示任意兩種參數(shù)的曲線。顯示格式包括 串聯(lián) 或并聯(lián)等同電路和兩極形式。
單測某一頻率時可以從曲線掃描轉換成標準LCR表讀值模式。
可變的輸出和偏壓源
交流輸出可選高達1V或20mA，實現(xiàn)在真實操作環(huán)境中來評估元件。可變偏壓直流源可提供達100mA的電流.
WK6500B阻抗分析儀是英國Wayne Kerr研發(fā)生產(chǎn)的一款阻抗分析儀，具有高頻阻抗量測功能頻率范圍20Hz---120MHz，高速測量速度
大型TET屏幕，具有觸屏功能。
基本度為0.05%
電平：10mV~1V;200uA~20mA

銷售、回收儀器品牌初述：
   泰克（Tektronix）、安捷倫（Agilent）、是德（Keysight）、羅德與施瓦茨（R&S）美國NI、
   愛德萬（Advantest）、安立（Anritsu）、萊特波特（LitePoint）、福祿克（Fluke）、
   橫河（Yokogawa）、吉時利（Keithley）、柯卡美能達、艾法斯（Aeroflex）

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